膜厚儀的準確度從哪些方面來進行提高？
　　覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)進行成品質(zhì)量檢測*的zui重要的工序，目前國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，《中華人民共和國計量法》對膜厚儀測量厚度也提出了技術(shù)要求。膜厚儀的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
　　影響膜厚儀準確度的因素有以下幾種：
　　1、基體金屬特性：對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似；對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
　　2、基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng)如果沒有，可采用其他方法進行校準。
　　3、邊緣效應：不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
　　4、曲率：不應在試件的彎曲表面上測量。
　　5、讀數(shù)次數(shù)：通常由于膜厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。
　　6、表面清潔度：測量前，應清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。